RM新时代网站-首页

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

什么是掃描電鏡(SEM)?

金鑒實驗室 ? 2024-11-20 23:55 ? 次閱讀

掃描電子顯微鏡(SEM)

掃描電子顯微鏡(SEM)是現代科學探索微觀世界的一把關鍵鑰匙。它通過高分辨率的電子成像技術,使我們能夠洞察物質的微觀構造,從而在科學研究和工業(yè)應用中發(fā)揮著不可替代的作用。金鑒實驗室作為行業(yè)領先的檢測機構,擁有先進的SEM設備,能夠為客戶提供高分辨率的微觀結構分析服務。

wKgaoWc-Bm6ARKoFAAEp5gnwhzk161.png

SEM:微觀構造的關鍵工具

SEM通過高能電子束掃描樣品表面,收集電子與樣品相互作用產生的信號,包括二次電子、背散射電子和X射線等,從而獲得樣品表面的詳細形貌、成分和結構信息。這種技術比傳統(tǒng)光學顯微鏡提供了更高的分辨率,能夠觀察到納米級別的微觀結構,如納米顆粒、病毒和細胞器等。

SEM的組成部分與成像過程

SEM由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈、樣品室和探測器等主要部件組成。電子槍產生電子束,電磁透鏡將電子束聚焦成細小的探針,掃描線圈控制電子束在樣品表面的掃描路徑,探測器接收并轉換電子與樣品相互作用產生的信號,最終在顯示器上生成圖像。通過調整電子束的參數和探測器的設置,可以獲得關于樣品的不同信息。金鑒實驗室在這方面具備豐富的經驗,能夠為客戶提供樣品制備和成像過程中的專業(yè)指導,確保獲得高質量的圖像和準確的分析結果。

SEM的關鍵操作參數

1. 加速電壓:影響電子束的能量和穿透能力,需要根據樣品的特性來選擇。

2. 工作距離:影響電子束的聚焦和分辨率,需要根據實驗需求進行調整。

3. 樣品制備:是SEM分析的重要步驟,不同的樣品需要不同的制備方法,以確保圖像質量和分析結果的準確性。金鑒實驗室提供專業(yè)的樣品制備服務,確保不同類型樣品的處理符合實驗要求,從而提高圖像質量和分析結果的準確性。

樣品制備的重要性

樣品制備對于SEM分析至關重要。導電樣品可以直接觀察,而非導電樣品可能需要進行噴金或噴碳處理以提高導電性。生物樣品通常需要經過固定、脫水、干燥等步驟,并可能需要噴金以提高其導電性和穩(wěn)定性。

wKgaoWc-BnaASywgAAj28bmctbk992.png

電子束與樣品的相互作用

電子束與樣品相互作用時產生的信號包含了豐富的樣品信息。二次電子信號主要用于提供表面形貌信息,背散射電子信號與樣品的原子序數相關,而X射線信號則可用于元素分析。理解這些信號的產生機制對于正確解釋SEM圖像至關重要。

圖像的解讀與分析

SEM圖像中包含了豐富的樣品信息,但解讀這些圖像需要專業(yè)知識。研究人員需要了解成像原理、識別圖像特征,并結合樣品制備和實驗條件進行綜合分析。此外,能譜分析和圖像處理軟件等輔助工具可以幫助獲取更多定量和定性信息。金鑒實驗室的技術團隊具備豐富的圖像處理經驗,能夠為客戶提供詳細的圖像分析報告,結合樣品制備和實驗條件進行綜合分析,確保研究結果的可靠性。

SEM的廣泛應用

1. 材料科學:用于表征材料的微觀形貌、晶體結構和化學成分,如金屬材料的斷口分析、合金的微觀組織和陶瓷材料的晶粒結構。

2. 微電子和半導體檢測集成電路的制造缺陷、分析器件失效機理和表征納米器件的結構。

3. 生物醫(yī)學:觀察細胞表面形態(tài)、組織結構和生物材料的表面特性。

4. 環(huán)境科學:分析環(huán)境樣品的形貌、成分和來源,如大氣顆粒物和水體沉積物。

5. 考古和文物保護:分析文物的胎釉結構、成分和古人骨、牙齒的微觀形態(tài)。

SEM不僅是探索微觀世界的超級眼睛,也是科學研究中的重要工具。它使我們能夠深入物質的內部結構,揭示隱藏的細節(jié),從而在多個領域推動科學的發(fā)展和技術創(chuàng)新。金鑒實驗室致力于為客戶提供最專業(yè)的SEM分析服務,推動科學的發(fā)展和技術創(chuàng)新,為各領域的研究提供強有力的支持。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • SEM
    SEM
    +關注

    關注

    0

    文章

    216

    瀏覽量

    14436
  • 顯微鏡
    +關注

    關注

    0

    文章

    558

    瀏覽量

    23020
  • 掃描電鏡
    +關注

    關注

    0

    文章

    77

    瀏覽量

    8987
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    一文搞懂掃描電鏡SEM)技術解讀與大功率半導體模塊封裝解析

    從本質上講,SEM "觀察"樣品表面的方式可以比作一個人獨自在暗室中使用手電筒(窄光束)掃描墻上的物體。從墻的一側到另一側進行掃描,手電筒再逐漸向下移動掃描,人就可以在記憶中
    的頭像 發(fā)表于 08-08 11:41 ?4216次閱讀
    一文搞懂<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>)技術解讀與大功率半導體模塊封裝解析

    影響掃描電鏡SEM)的幾大要素?

    本帖最后由 淘淘發(fā)燒友 于 2019-7-26 16:57 編輯 影響掃描電鏡的分辨本領的主要因素有: 分辨率A. 入射電子束束斑直徑:為掃描電鏡分辨本領的極限。一般,熱陰極電子槍的最小束斑
    發(fā)表于 07-26 16:54

    紅血球圖像表面曲率的計算方法

    提出一種基于陰影恢復技術的細胞圖像表面各點的曲率計算方法,利用邊界輪廓提取技術分離由掃描電鏡SEM得到的紅血球亮度圖像,對單個細胞從跟蹤得到的中心點開始進行區(qū)域生
    發(fā)表于 04-11 09:23 ?18次下載

    Pt含量對燃料電池膜電極組件結構及性能的影響

    assembly,MEA)??疾炝穗姵氐姆烹娦阅?,并利用循環(huán)伏安(CV)、電化學阻抗譜(EIS)、掃描電鏡(SEM)等技術對電池的電
    發(fā)表于 03-15 03:43 ?20次下載

    新型工業(yè)掃描電鏡SEM)的特色突破

    本文簡介新型工業(yè)掃描電鏡SEM)的性能指標、功能特點和典型應用舉例,著重描述從整體設計到關鍵部件、從指導理念到制造層面的特色創(chuàng)新。
    發(fā)表于 04-10 11:57 ?6112次閱讀
    新型工業(yè)<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>)的特色突破

    掃描電鏡SEM的原理、性能及應用

    SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關,也就是說與樣品的表面結構有關,次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉變?yōu)楣庑盘?,再?/div>
    發(fā)表于 06-21 09:25 ?1w次閱讀

    掃描電鏡(SEM)LED材料分析

    1. 設備型號 日立-掃描電鏡-SU 1510, 配備能譜儀eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關,也就是說
    發(fā)表于 11-04 10:20 ?2431次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>)LED材料分析

    LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

    圖1 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖2 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖3 LED芯片(掃描電鏡SEM
    發(fā)表于 11-24 11:02 ?2103次閱讀
    LED芯片觀察(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>)<b class='flag-5'>SEM</b>失效分析

    LED切片掃描電鏡分析

    LED芯片粘結不牢(掃描電鏡SEM) LED芯片粘結錯位(掃描電鏡SEM) 冷熱沖擊后,銀膠開裂(掃描電鏡
    發(fā)表于 11-24 10:59 ?1189次閱讀
    LED切片<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>分析

    LED切片分析(金相顯微鏡)失效分析

    案例分析: ? ?(掃描電鏡SEM) ? LED引線裂開(掃描電鏡SEM) ? 樣品制備 樣品制備多是破壞性實驗,即利用砂紙(或鉆石砂紙)進行粗磨和細磨,加上后續(xù)拋光,可處理出清晰的樣
    發(fā)表于 11-25 17:27 ?1226次閱讀
    LED切片分析(金相顯微鏡)失效分析

    LED焊球不良品觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

    圖1 LED焊球良品(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品(掃描電鏡SEM) 圖3 LED焊球(掃描
    發(fā)表于 11-26 16:33 ?1042次閱讀
    LED焊球不良品觀察(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>)<b class='flag-5'>SEM</b>失效分析

    PMMA光擴散粉顆粒形貌觀察和直徑測量分析

    于:光擴散燈罩,磨砂燈罩,霧面光擴散燈罩、陽光板、LED發(fā)光面板,電子顯示牌,燈箱廣告板數碼管,發(fā)光字等。 圖1 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) 圖2 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM
    發(fā)表于 11-26 16:24 ?1819次閱讀
    PMMA光擴散粉顆粒形貌觀察和直徑測量分析

    PMMA顆粒形貌觀察和直徑測量(掃描電鏡SEM)

    ? 圖1 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖2 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖3?PMMA顆粒形貌(掃描電鏡
    發(fā)表于 12-20 17:14 ?1777次閱讀
    PMMA顆粒形貌觀察和直徑測量(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>,<b class='flag-5'>SEM</b>)

    金屬氧化物可靠性測試SEM分析

    figure class=image image_resized style=width:500px;img alt=金屬氧化物(掃描電鏡SEM) src=https
    發(fā)表于 12-22 16:44 ?811次閱讀
    金屬氧化物可靠性測試<b class='flag-5'>SEM</b>分析

    場發(fā)射掃描電鏡(FESEM)與常規(guī)掃描電鏡SEM):技術對比及優(yōu)勢分析

    場發(fā)射掃描電鏡SEM的比較及優(yōu)勢在微觀世界的研究中,掃描電鏡SEM)一直是科學家們探索材料表面和內部結構的重要工具。隨著技術的進步,場發(fā)射掃描電
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:36 ?302次閱讀
    場發(fā)射<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(FESEM)與常規(guī)<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>):技術對比及優(yōu)勢分析
    RM新时代网站-首页