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博捷芯劃片機:不同厚度晶圓選擇的晶圓切割工藝

博捷芯半導(dǎo)體 ? 2022-10-08 16:02 ? 次閱讀

晶圓經(jīng)過前道工序后芯片制備完成,還需要經(jīng)過切割使晶圓上的芯片分離下來,最后進行封裝。不同厚度晶圓選擇的晶圓切割工藝也不同:

厚度100um以上的晶圓一般使用刀片切割;

厚度不到100um的晶圓一般使用激光切割,激光切割可以減少剝落和裂紋的問題,但是在100um以上時,生產(chǎn)效率將大大降低;

厚度不到30um的晶圓則使用等離子切割,等離子切割速度快,不會對晶圓表面造成損傷,從而提高良率,但是其工藝過程更為復(fù)雜;

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刀片切割(Blade dicing or blade sawing)

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刀片切割(鋸切)過程中,保護膜的附著與摘除

為了保護晶圓在切割過程中免受外部損傷,事先會在晶圓上貼敷膠膜,以便保證更安全的“切單”。“背面減薄”過程中,膠膜會貼在晶圓的正面。但與此相反,在“刀片”切割中,膠膜要貼在晶圓的背面。而在共晶貼片,把分離的芯片固定在PCB或定架上過程中,貼會背面的這一膠膜會自動脫落。切割時由于摩擦很大,所以要從各個方向連續(xù)噴灑DI水(去離子水)。而且,葉輪要附有金剛石顆粒,這樣才可以更好地切片。此時,切口(刀片厚度:凹槽的寬度)必須均勻,不得超過劃片槽的寬度。

很長一段時間,鋸切一直是被最廣泛使用的傳統(tǒng)的切割方法,其最大的優(yōu)點就是可以在短時間內(nèi)切割大量的晶圓。然而,如果切片速度大幅提高,小芯片邊緣剝落的可能性就會變大。因此,應(yīng)將葉輪的旋轉(zhuǎn)次數(shù)控制在每分鐘30000次左右。

晶圓劃片機
晶圓切割時,經(jīng)常遇到較窄跡道(street)寬度,要求將每一次切割放在跡道中心幾微米范圍內(nèi)的能力。這就要求使用具有高分度軸精度、高光學(xué)放大和先進對準(zhǔn)運算的設(shè)備。當(dāng)用窄跡道切割晶圓時,應(yīng)選擇盡可能最薄的刀片。可是,很薄的刀片(20μm)是非常脆弱的,更容易過早破裂和磨損。結(jié)果,其壽命期望和工藝穩(wěn)定性都比較厚的刀片差。對于50~76μm跡道的刀片推薦厚度應(yīng)該是20~30μm。

刀痕,自動校準(zhǔn)基準(zhǔn)線位置,防止崩邊過大及切片造成良率的損失。能精確進行測高并同步切割作業(yè)時對切割刀刃進行實時檢測。清洗部位配備水汽二流體清洗裝置,能對加工物進行高效清洗。半自動劃片機LX3356機臺可作業(yè)8吋wafer,含自動光學(xué)補償、聚焦及自認(rèn)準(zhǔn)特征點功能,配有高低倍兩種鏡頭,可用于切割道寬度測量、基準(zhǔn)線補償調(diào)整等。可自動檢測切割刀痕,自動校準(zhǔn)基準(zhǔn)線位置,防止崩邊過大及切片造成良率的損失。能精確進行測高并同步切割作業(yè)時對切割刀刃進行實時檢測。

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劃片工藝關(guān)鍵點
1、碎片
頂面碎片,它發(fā)生晶圓的頂面,變成一個合格率問題,當(dāng)切片接近芯片的有源區(qū)域時,主要依靠刀片磨砂粒度、冷卻劑流量和進給速度。
背面碎片發(fā)生在晶圓的底面,當(dāng)大的、不規(guī)則微小裂紋從切割的底面擴散開并匯合到一起的時候。當(dāng)這些微小裂紋足夠長而引起不可接受的大顆粒從切口除掉的時候,BSC變成一個合格率問題。如果背面碎片的尺寸在10μm以下,忽略不計。另一方面,當(dāng)尺寸大于25μm時,可以看作是潛在的受損??墒牵?0μm的平均大小可以接受,示晶圓的厚度而定。

刀片優(yōu)化
為了接收新的切片挑戰(zhàn),切片系統(tǒng)與刀片之間的協(xié)作是必要的。對于高端(high-end)應(yīng)用特別如此。刀片在工藝優(yōu)化中起主要的作用。
除了尺寸,三個關(guān)鍵參數(shù)決定刀片特性:金剛石(磨料)尺寸、金剛石含量和粘結(jié)劑的類型。結(jié)合物是各種金屬和/或其中分布有金剛石磨料的基體。其它因素,諸如進給率和心軸速度,也可能影響刀片選擇。
三個關(guān)鍵的刀片元素(金剛石尺寸、濃度和結(jié)合物硬度)的相對重要性取決于刀片磨料尺寸和工藝參數(shù)。為了給一個特定應(yīng)用選擇最適合的刀片,對這些關(guān)系的理解是必要的。

2、刀片負(fù)載監(jiān)測
在切片或任何其它磨削過程中,在不超出可接受的切削質(zhì)量參數(shù)時,新一代的切片系統(tǒng)可以自動監(jiān)測施加在刀片上的負(fù)載,或扭矩。對于每一套工藝參數(shù),都有一個切片質(zhì)量下降和BSC出現(xiàn)的極限扭矩值。切削質(zhì)量與刀片基板相互作用力的相互關(guān)系,和其變量的測量使得可以決定工藝偏差和損傷的形成。工藝參數(shù)可以實時調(diào)整,使得不超過扭矩極限和獲得最大的進給速度。
切片工序的關(guān)鍵部分是切割刀片的修整(dressing)。在非監(jiān)測的切片系統(tǒng)中,修整工序是通過一套反復(fù)試驗來建立的。在刀片負(fù)載受監(jiān)測的系統(tǒng)中,修整的終點是通過測量的力量數(shù)據(jù)來發(fā)現(xiàn)的,它建立最佳的修整程序。這個方法有兩個優(yōu)點:不需要限時來保證最佳的刀片性能,和沒有合格率損失,該損失是由于用部分修整的刀片切片所造成的質(zhì)量差。

3、冷卻劑流量穩(wěn)定(Coolant Flow Stabilization)
以穩(wěn)定的扭矩運轉(zhuǎn)的系統(tǒng)要求進給率、心軸速度和冷卻劑流量的穩(wěn)定。冷卻劑在刀片上施加阻力,它造成扭力。最新一代的切片系統(tǒng)通過控制冷卻劑流量來保持穩(wěn)定的流速和阻力,從而保持冷卻劑扭矩影響穩(wěn)定。
當(dāng)切片機有穩(wěn)定的冷卻劑流量和所有其它參數(shù)都受控制時,維持一個穩(wěn)定的扭矩。如果記錄,從穩(wěn)定扭矩的任何偏離都是由于不受控的因素。這些包括由于噴嘴堵塞的冷卻劑流量變化、噴嘴調(diào)整的變化、刀片對刀片的變化、刀片情況和操作員錯誤。
切片工藝變得越來越且要求高。切割跡道變得越窄,可能充滿測試用衰耗器(test pad),并且刀片可能需要切割由不同材料制成的各種涂敷層。在這些條件下達到最大的切片工藝合格率和生產(chǎn)率要求認(rèn)真的刀片選擇和先進的工藝控制能力。

UV膜與藍膜的區(qū)別
晶圓在劃片之前,會在晶圓的背面粘上一層膜,該層膜的作用是將芯片粘在膜上,可以保持晶粒在切割過程中的完整,減少切割過程中所產(chǎn)生的崩碎、位移和掉落等問題。
實際生產(chǎn)中,用于固定wafer和芯片的膜,一般使用UV膜或藍膜。
UV膜:主要用于晶圓減薄工藝;
藍膜:主要用于晶圓劃片工藝;

UV膜和藍膜的特性

UV膜與藍膜均具有粘性,粘性程度一般用粘性剝離度來表示,通常使用單位N/20 mm或者N/25 mm,1 N/20 mm的意義是測試條寬度為20mm,用180°的剝離角度從測試版上將其剝離的力是1N。
UV膜是將特殊配方的涂料涂布于PET薄膜基材表面,達到阻隔紫外光以及短波長可見光的效果,圖2為通用的UV膜結(jié)構(gòu)圖。一般UV膜有3層構(gòu)成,其基層材質(zhì)為聚乙烯氯化物,粘性層在中間,與粘性層相鄰的為覆層(release film),部分UV膜型號沒有該覆層。

UV膜通常叫紫外線照射膠帶,價格相對較高,未使用時有效期較短。分為高粘性、中粘性和低粘性三種。高粘性的UV膜沒有經(jīng)過紫外線照射時粘性在5000mN/20mm ~ 12000mN/20mm,經(jīng)過紫外線照射后,剝離黏度在1000mN/20mm以下;低粘性的UV膜沒有經(jīng)過紫外線照射的剝離性黏度在1000mN/20mm左右,經(jīng)過紫外線照射后,剝離黏度下降到100mN/20mm左右。低粘性的UV膜經(jīng)過紫外線照射后,wafer表面不會有殘膠現(xiàn)象,晶粒容易取下。

UV膜有適當(dāng)?shù)臄U張性,在減薄劃片的過程中,水不會滲入晶粒和膠帶之間。
藍膜通常叫電子級膠帶,價格較低,是一種藍色的粘性度不變的膜,其粘性剝離度一般在100~3000mN/20mm,受溫度的影響會產(chǎn)生殘膠。相比之下,UV膜較藍膜更為穩(wěn)定。

UV膜和藍膜在生產(chǎn)中的應(yīng)用分析

通常來說,對于小芯片減薄劃片時使用UV膜,對于大芯片減薄劃片時使用藍膜,因為,UV膜的粘性可以使用紫外線的照射時間和強度來控制,防止芯片在抓取的過程中漏抓或者抓崩。若芯片在減薄劃切實之后,直接上倒封裝標(biāo)簽生產(chǎn)線,那么最好使用UV膜,因為倒封裝生產(chǎn)線的芯片一般比較小,而且設(shè)備的頂針在藍膜底部將芯片頂起。如果使用較大粘性剝離度的藍膜,可能使得頂針在頂起芯片的過程中將芯片頂碎。

藍膜由于受其溫度影響乃粘性度會發(fā)生變化,而且本身粘性度較高,因此,一般較大面積的芯片或者wafer減薄劃切后直接進行后封裝工藝,而非直接進行倒封裝工藝做Inlay時,可以考慮使用藍膜。

UV膜與藍膜相比,它的粘性剝離度可變性使得其優(yōu)越性很大,主要作用為:用于wafer減薄過程中對wafer進行固定;wafer劃切過程中,用于保護芯片,防止其脫落或崩邊;用于wafer的翻轉(zhuǎn)和運輸,防止已經(jīng)劃好的芯片發(fā)生脫落。規(guī)范化使用UV膜和藍膜的各個參數(shù),根據(jù)芯片所需要的加工工藝,選擇合適的UV膜或者藍膜,即可以節(jié)省成本,又可以加進芯片產(chǎn)業(yè)化發(fā)展。


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