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四大潛力應(yīng)用助力GaN市場(chǎng)騰飛,易用和可靠性是關(guān)鍵

荷葉塘 ? 來源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:程文智 ? 2023-06-08 09:40 ? 次閱讀


(文/程文智)近幾年碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導(dǎo)體異?;馃幔瑖?guó)內(nèi)外很多半導(dǎo)體企業(yè)都涌入其中。據(jù)Yole Développement統(tǒng)計(jì),2021全球GaN功率器件市場(chǎng)規(guī)模為1.26億美元,預(yù)計(jì)2021~2027年期間復(fù)合年增長(zhǎng)率為59%,2027年全球市場(chǎng)規(guī)模高達(dá)20億美元,這主要得益于四大潛力市場(chǎng)的助力。

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圖:2021~2017年GaN功率器件市場(chǎng)規(guī)模(來源:Yole)


四大潛力應(yīng)用助力GaN市場(chǎng)騰飛

哪些應(yīng)用的增長(zhǎng),讓GaN市場(chǎng)規(guī)模能夠以如此快的速度成長(zhǎng)呢?在Cambridge GaN Devices(簡(jiǎn)稱:CGD)公司亞太區(qū)銷售副總裁Carryll Chen看來主要有四大應(yīng)用,分別是消費(fèi)類應(yīng)用、數(shù)據(jù)中心通信電源、光伏等工業(yè)類應(yīng)用,以及汽車類應(yīng)用。

首先是消費(fèi)類應(yīng)用,這是GaN器件最開始大規(guī)模出貨的市場(chǎng),現(xiàn)在搭載GaN器件的PD充電器,尤其是第三方的充電器已經(jīng)非常流行。接下來,GaN還會(huì)繼續(xù)滲透到其他消費(fèi)類應(yīng)用中,比如顯示器、游戲主機(jī)電源、低噪聲D類音頻放大器等。據(jù)Carryll Chen介紹,以前的顯示器電源大概是50W,但如今的大尺寸顯示器電源已經(jīng)來到了200W,因此采用GaN愿望越來越強(qiáng)烈,目前已經(jīng)有廠商在評(píng)估了;而低噪聲D類音頻放大器則主要用于高端音響中,因?yàn)镚aN器件可以實(shí)現(xiàn)更理想的性能,而且抑制性能會(huì)更好。

二是數(shù)據(jù)中心與通信電源類應(yīng)用。隨著信息傳輸?shù)臄?shù)量和速度越來越高,數(shù)據(jù)中心消耗的能源也越來越大。現(xiàn)在各國(guó)的法規(guī)都致力于在同樣的體積下不斷提升功率密度,而GaN在提升功率密度方面非常有優(yōu)勢(shì),因此,這些年來,越來越多的服務(wù)器和數(shù)據(jù)中心廠商開始導(dǎo)入采用GaN器件的高效率、高功率密度電源。

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圖:Cambridge GaN Devices公司亞太區(qū)銷售副總裁Carryll Chen


三是可再生能源與光伏等工業(yè)類應(yīng)用。據(jù)Carryll Chen透露,目前已經(jīng)有不少微型逆變器產(chǎn)品開始導(dǎo)入GaN器件了。當(dāng)然,除了個(gè)人用或家庭用的光伏逆變器,還有儲(chǔ)能系統(tǒng)也是一個(gè)增長(zhǎng)不錯(cuò)的潛力市場(chǎng)。另外,工業(yè)類的應(yīng)用,也包括馬達(dá)驅(qū)動(dòng)以及軌道電源等工業(yè)類電源產(chǎn)品。她談到,雖然工業(yè)類的應(yīng)用起步比較慢,但今年的導(dǎo)入速度非???,未來的滲透率值得期待。

四是汽車類應(yīng)用。這是未來最有發(fā)展?jié)摿Φ囊粋€(gè)市場(chǎng),GaN可以用在電動(dòng)汽車的牽引逆變器、電機(jī)控制與驅(qū)動(dòng)、車載充電機(jī)(OBC)、DC/DC轉(zhuǎn)換器、激光雷達(dá)上的電源模塊、汽車座艙內(nèi)的無線充電等場(chǎng)景中,不過由于汽車類應(yīng)用大都與人身安全有很大的關(guān)系,所以大規(guī)模應(yīng)用到汽車上還需要等待一段時(shí)間。畢竟安全驗(yàn)證是需要時(shí)間的。但這的確是一個(gè)趨勢(shì),值得關(guān)注。

易用和可靠性是GaN市場(chǎng)騰飛的關(guān)鍵

前面談到了四大類應(yīng)用將會(huì)是未來GaN市場(chǎng)規(guī)模快速增長(zhǎng)的最大驅(qū)動(dòng)力來源,但其實(shí),不同類型的應(yīng)用對(duì)GaN器件的需求是不一樣的,從效率、容易使用、可靠性、尺寸,甚至是成本方面來考量的話,消費(fèi)類應(yīng)用由于設(shè)計(jì)周期非常短,用量很大,因此,對(duì)使用者來說,他們最希望拿到一個(gè)非常簡(jiǎn)單,易于使用的器件,而且尺寸要小,成本要有競(jìng)爭(zhēng)力。

而對(duì)數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用來說,他們對(duì)效率和可靠性的要求更加嚴(yán)苛。畢竟消費(fèi)類的充電器萬一壞了,影響的可能是個(gè)人無法充電而已,但數(shù)據(jù)中心,如果一個(gè)器件發(fā)生了故障,影響的可能是整個(gè)服務(wù)器的運(yùn)作,或者數(shù)據(jù)的損毀。

到汽車類應(yīng)用的話,可靠性的要求就更高了,畢竟它直接關(guān)系到人身安全了。

綜合來看,易用性和可靠性是GaN器件能否大規(guī)模被市場(chǎng)采用的關(guān)鍵。那么,如何才能做到易用和可靠呢?畢竟GaN的gate耐壓不高,很容易誤導(dǎo)通和開關(guān),甚至容易發(fā)生“炸機(jī)”事件。加上GaN材料的特性,其切換速度非常快,所以dv/dt帶來的噪聲也比MOSFET高很多。要想做到跟MOSFET一樣方便易用,其實(shí)是很困難的。

CGD通過先進(jìn)設(shè)計(jì),大幅提升GaN可靠性與易用性

CGD是一家Fabless半導(dǎo)體公司,致力于開發(fā)一系列節(jié)能的GaN功率器件,目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)更加環(huán)保的電子產(chǎn)品,其兩位創(chuàng)始人均來自英國(guó)劍橋大學(xué),其中首席執(zhí)行官Giorgia Longobardi博士此前在劍橋大學(xué)工程系領(lǐng)導(dǎo) GaN 功率器件團(tuán)隊(duì),在GaN領(lǐng)域有12年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn),首席技術(shù)官(CTO)Florin Udrea則是劍橋大學(xué)功率半導(dǎo)體教授,擁有超過150項(xiàng)專利。在他們兩位指導(dǎo)下研發(fā)出來的ICeGaN?系列產(chǎn)品則兼具可靠性和易用性兩大特點(diǎn)。

為了克服GaN的使用挑戰(zhàn),讓GaN更容易驅(qū)動(dòng),業(yè)內(nèi)GaN廠商想了很多辦法,比如有使用Cascode架構(gòu)驅(qū)動(dòng)GaN器件,以避免柵極耐壓太低的問題;也有將柵極驅(qū)動(dòng)器集成到GaN內(nèi)部,通過外部的控制信號(hào),讓內(nèi)部的GaN驅(qū)動(dòng)器直接去驅(qū)動(dòng)GaN;“但這些方式都各有利弊。” Carryll Chen對(duì)電子發(fā)燒友網(wǎng)表示,第一種解決方案需要負(fù)驅(qū)動(dòng)電壓,以限制高dv/dt瞬態(tài)期間HEMT的虛假關(guān)斷事件;而柵極驅(qū)動(dòng)器完全集成的解決方案,雖然減少了寄生效應(yīng)帶來的影響,但卻失去了使用低成本、高性能硅基驅(qū)動(dòng)器的靈活性。此外,由于片上熱耦合會(huì)導(dǎo)致功率器件自發(fā)熱,柵極驅(qū)動(dòng)器會(huì)有額外的損耗。

而CGD則另辟蹊徑,不是將柵極驅(qū)動(dòng)器完全集成,而是利用內(nèi)置的邏輯電路去控制電壓,達(dá)到簡(jiǎn)化驅(qū)動(dòng)電路的目的。因?yàn)樵?Carryll 看來,如果想要讓一個(gè)GaN器件變得比較好設(shè)計(jì),或者比較好使用的話,最好的辦法就是想辦法讓GaN驅(qū)動(dòng)起來就像一個(gè)MOSFET,畢竟MOSFET已經(jīng)使用非常久了,大部分的工程師都熟悉。

CGD的ICeGaN的驅(qū)動(dòng)方式就與MOSFET類似,不同于其他的增強(qiáng)型GaN解決方案,ICeGaN與任何硅基驅(qū)動(dòng)器都能兼容。再加上ICeGaN器件具有較高的閾值電壓,Vth≈3V,可抑制與dV/dt相關(guān)的虛假導(dǎo)通事件,從而使操作更加安全。此外,ICeGaN 器件可以使用高達(dá)20V的柵極電壓驅(qū)動(dòng)(遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過 p-GaN HEMT的標(biāo)準(zhǔn)電壓7V),而不會(huì)影響器件的跨導(dǎo)或動(dòng)態(tài)性能。

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圖:ICeGaN H2系列器件內(nèi)部框圖(來源:CGD)


根據(jù)ICeGaN器件的內(nèi)部框圖,內(nèi)置的鉗位電路能夠?qū)斎霒艠O信號(hào)控制在5.5V左右,來使內(nèi)部GaN HEMT完全導(dǎo)通。除此之外,它其實(shí)還有溫度補(bǔ)償?shù)墓δ茉诶锩?,在柵極與源極之間加入的米勒鉗位電路,可以用最短的路徑避免dv/dt造成的影響,實(shí)現(xiàn)0V關(guān)斷。與常用的外部放電電路相比,CGD可以在內(nèi)部晶圓上實(shí)現(xiàn)最短路徑,會(huì)有更好的表現(xiàn)。

圖示, 示意圖描述已自動(dòng)生成

像CGD這樣只集成部分電路,而不是將整個(gè)驅(qū)動(dòng)器都集成到芯片內(nèi)部帶來的好處是,由于驅(qū)動(dòng)電流還是來自外部的驅(qū)動(dòng)器,CGD可以直接使用Ron或Roff去控制充放電電流,調(diào)整器件的dv/dt斜率。外部驅(qū)動(dòng)線路會(huì)非常接近MOSFET。唯一的差異就是CGD目前還是需要外接VDD用來設(shè)定一些參考電壓,做一些 enable、disable和 detection的監(jiān)測(cè)功能。因此,ICeGaN器件還是需要給VDD供電,未來,CGD會(huì)努力實(shí)現(xiàn)GaN和MOSFET的無痛轉(zhuǎn)換。

目前的研究顯示,GaN器件的柵極耐壓其實(shí)跟溫度和頻率有很大的關(guān)系,尤其是GaN HEMT的柵極耐壓最大值只有7V時(shí),在低溫下,如果耐壓降低了,驅(qū)動(dòng)時(shí)的雜散信號(hào)很可能會(huì)把GaN的柵源極擊穿,或是造成生命周期的減少。為了讓ICeGaN器件更加穩(wěn)健,讓它能夠在不同溫度環(huán)境下,都能保持良好運(yùn)作,CGD在鉗位電路里面,額外增加了溫度補(bǔ)償。因此,ICeGaN器件內(nèi)部的鉗位電路會(huì)隨著溫度的不同而改變,比如在25℃時(shí),內(nèi)部鉗制在5.5V,而在0℃時(shí),鉗制電壓值會(huì)跟著降低,以保證GaN的柵極不會(huì)被擊穿。當(dāng)GaN器件啟動(dòng)后,溫度慢慢提升之后,內(nèi)部的鉗位電路的電壓會(huì)往上提高,不會(huì)因?yàn)榇斯δ芏绊懙叫时憩F(xiàn)。

具體產(chǎn)品方面,CGD在PCIM Europe期間推出的第二代ICeGaN 650V氮化鎵HEMT系列產(chǎn)品,采用了CGD的智能柵極接口,幾乎消除了典型e-mode GaN的各種弱點(diǎn),大幅加強(qiáng)了柵極電壓耐用性,可提供更高的噪聲抗擾閾值,以及提升dv/dt抑制和ESD保護(hù)效果。新型 650 V H2 ICeGaN 晶體管與前代器件相同,驅(qū)動(dòng)電壓范圍與硅基MOSFET相同,驅(qū)動(dòng)電路也非常接近,無需復(fù)雜低效的電路,并可兼容市場(chǎng)上普遍使用的硅基MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器。另外,與硅器件相比,H2 ICeGaN HEMT 的 QG 低10倍,QOSS低5倍,這使得 H2 ICeGaN HEMT在高開關(guān)頻率下能大幅降低開關(guān)損耗,并縮小尺寸,減輕重量。這使得其效率和效能在同類產(chǎn)品中更具優(yōu)勢(shì),在SMPS應(yīng)用中,比業(yè)界出色的硅基MOSFET的性能要高出2%。

由此可見,CGD的GaN器件不僅解決了目前GaN技術(shù)的發(fā)展的瓶頸,也克服了減緩采用GaN新型技術(shù)的挑戰(zhàn),同時(shí),還能沿用傳統(tǒng)MOSFET的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),幫助終端廠商從MOSFET無痛轉(zhuǎn)換到GaN,快速搶占寬禁帶半導(dǎo)體市場(chǎng)商機(jī)。

結(jié)語
GaN可以說是當(dāng)今功率電子領(lǐng)域最引人注目的材料,有助于開發(fā)出功率密度更大、導(dǎo)通電阻更低、頻率響應(yīng)更高的高壓器件。隨著市場(chǎng)對(duì)高效率和高功率密度需求的提升,以及未來四大潛力應(yīng)用的驅(qū)動(dòng),加上更多簡(jiǎn)單易用,可靠性更高的GaN器件的推出,相信GaN市場(chǎng)在未來幾年會(huì)迎來高速騰飛。


更多詳情,請(qǐng)?jiān)L問CGD官方網(wǎng)站
https://camgandevices.com/zh/?utm_source=elecfans-website&utm_medium=paidad


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    在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和
    的頭像 發(fā)表于 01-25 10:21 ?1605次閱讀
    如何確保IGBT的產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b>

    IGBT的可靠性測(cè)試方案

    在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和
    的頭像 發(fā)表于 01-17 09:56 ?1430次閱讀
    IGBT的<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試方案

    什么是汽車整車可靠性測(cè)試?

    當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車市場(chǎng)中,汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過整車可靠性測(cè)試,汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。   此外,整車
    的頭像 發(fā)表于 12-22 17:16 ?948次閱讀
    什么是汽車整車<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試?
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